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原子力顯微鏡AFM工作原理

更新時(shí)間：2018-09-17 點(diǎn)擊次數(shù)：2344

分析原理：將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的作用力，通過(guò)在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。從而可以獲得樣品表面形貌的信息


譜圖的表示方法：微懸臂對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化


提供的信息：樣品表面形貌的信息

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